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双通道示波器/示波仪 型号:HAD-SDS5032E主要点:提供2输入通道;带LAN(网口)及VGA接口;维持采样率的同时采集较长的信号周期; 自动量程能,轻松实现即触即测效果; 新增Pass/Fail能和触发同步输出能; 新增波形录制回放能;8英寸800×600分辨率大尺寸显示;
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品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
---|---|---|---|
应用领域 | 能源,电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气 |
双通道示波器/示波仪 型号:HAD-SDS5032E
双通道示波器主要点:
提供2输入通道;
带LAN(网口)及VGA接口;
维持采样率的同时采集较长的信号周期;
自动量程能,轻松实现即触即测效果;
新增Pass/Fail能和触发同步输出能;
新增波形录制回放能;
8英寸800×600分辨率大尺寸显示;
拇宽度的薄机身,占用更小的作空间;
带宽 | 30MHz | |
实时采样率 | 250MS/s | |
上升时间(BNC上典型的) | ≤14ns | |
存储深度 | 10K | |
通道 | 2 通道+外触发 | |
显示 | 8.0英寸TFT(真彩色)液晶屏幕,65535色,800x600像素 | |
时间间隔(△T)测量度 | 单次:±(1采样间隔时间+100ppm×读数+0.6ns) >16个平均值: | |
输入耦合 | 直、交、接地 | |
输入阻抗 | 1MΩ±2%,与15pF±5pF 并联 | |
时基范围 | 4ns/div~100s/div 按1~2~4制方式步 | |
垂直灵敏度 | 5mV/div~10V/div(在输入BNC处) | |
垂直分辨率 | 8比分辨率,两个通道同时采样 | |
大输入电压 | 400V (DC+AC 峰值、1MΩ输入阻抗)(10:1探头衰减) | |
触发类型 | 边沿触发、视频触发、交替触发、脉宽触发、斜率触发 | |
探头衰减系数 | 1X, 10X, 100X, 1000X | |
通道间的隔离度 | 50Hz : 100 : 1 , 10MHz : 40 : 1 | |
波形内插 | ( sinx ) / x | |
位移范围 | ±1V(2mV~50mV), ±10V(100mV~1V), ±100V(2V~10V) | |
单次带宽 | 30MHZ | |
低频响应(交耦合,-3Db) | ≥5Hz(在BNC上) | |
直增益度 | ±3% | |
触发耦合方式 | DC耦合、AC耦合、LF抑制、HF抑制 | |
触发电平范围 | 内 | 距屏幕中心±6格 |
EXT | ±600mV | |
EXT/5 | ±3V | |
触发电平度(典型的) | 内 | ±0.3格 |
EXT | ±(40mV+6%设定值) | |
EXT/5 | ±(200mV+6%设定值) | |
触发灵敏度 | 内 | 2格峰间值 |
EXT | 400mV | |
EXT/5 | 2V | |
信号制式和行/场频率 | 支持何场频或行频的NTSC、PAL和SECAM广播系统 | |
触发方式 | 自动、正常、单次 | |
自动测量 | 峰-峰值、平均值、均方根值、频率、周期、大值、小值、端值、底端值、幅度、过冲、预冲、上升时间、下降时间、正脉冲、负脉宽、正占空比、负占空比、延迟A→B上升、延迟A→B下降 | |
数学操作 | 加、减、乘、除、反相、FFT | |
存储波形 | 15组波形 | |
李沙育图形 | 带宽 | 满带宽 |
相位差 | ±3 degrees | |
光标测量 | 光标间电压差(△V)、光标间时间差(△T) | |
PC接口 | USB,支持U盘存储,选配:RS232接口、VGA(二选) | |
电源 | 100-240VACRMS,CATⅡ | |
电池 | Cell: 558792 4000mAh/3.7V Pack: 2s2p 7.4V/8000mAh | |
尺寸 | 3480mm×170mm×780mm | |
重量 | 1.8KG |
2. 半导体硅材料分选仪/硅材料分选仪 型号:H15141
1.具有电阻率及型号测试功能。适合用于分选导电型号和剔除重掺材料。
2.AC220V供电
3.重掺声光同时报警4.衍生产品:简易重掺笔(只有重掺报警,无型号测量)
4.电阻率:小于0.5欧姆厘米报警
5.P/N型号:0.005欧姆厘米<电阻率<1000欧姆厘米
3.硅材料测试仪/硅材料检测仪 型号:H15139
1.便携式,使用9V供电
2.具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。
3.预设样片厚度,自动修正,直读电阻率
4.报警门限预设0-1.0,按0.1步进,0不报警
5.整机尺寸:92×140×24 mm
5.电阻率:0.01-50欧姆厘米
6.P/N型号:0.1欧姆厘米<电阻率<500欧姆厘米
4.硅材料综合测试仪/硅材料测试仪/硅材料检测仪 型号:H15138
1.具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。
2.电阻率分档直观,P/N报警门限分设。
3.预设样片厚度,自动修正,直读电阻率
4.P/N分选精度
5.交流电AC220V供电
6.主机尺寸:155×120×50mm
6.电阻率:0.001-100欧姆厘米
7.P/N型号:0.005欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米
5非接触厚度电阻率测试仪/厚度电阻率测试仪/厚度电阻率 型号:H15136
1.厚度测试范围150~600um
2.厚度测试精度 1um
3.电阻率测量范围 0.001~50欧姆厘米
以上参数资料与图片相对应