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颗粒物采样仪

产品简介

颗粒物采样仪采样粒径:TSP、PM10、PM2.5和PM1.0,用户可按需选择;
采样流量:1.00m3/min ±1%;

产品型号:H11935
更新时间:2024-05-16
厂商性质:生产厂家
访问量:95
详细介绍
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域能源,电子,交通,汽车,电气电源:AC, 180-230V,50Hz

大流量空气颗粒物采样器/颗粒物采样仪 型号:H11935

 颗粒物采样仪采样粒径:TSPPM10PM2.5PM1.0,用户可按需选择;

采样流量:1.00m3/min ±1%

 环境参数测量:仪器可实时测量和记录采样期间温度、湿度、风速和气压(海拔)等各种气候参数,数据U盘导出;

参数设置及数据显示:可任意进行采样及控制参数的设置、修改和存储。微电脑时控开关,智能化采样时间控制;

环境适用温度:-20℃+50℃

功率:仪器功率< 800W

电源:AC, 180-230V50Hz

尺寸及重量:480mm×480mm×1650mm(长××高);60Kg



2.数显激光率计 型号:H11933

 

本仪器在Ⅱ型激光功率计基础上改用3½数显表,是一种宽数字显示的检测激光输出功率的精密仪器,测量误差小。

测量范围:0199.9mW(自动进位换档)

 

 

 

3.热缩试验仪/热收缩性能仪 型号:H11932

适用于各种薄膜、热缩管、药用PVC硬片、背板等材料在多种温度下的液体介质中进行热收缩性能及尺寸稳定性的测试。

 

 

微电脑控制、液晶显示数据

菜单式界面、PVC操作面板

液体介质加热

P.I.D温度监控

自动计时

试样夹持薄膜网架

适用于各种薄膜、热缩管、药用PVC硬片、背板等

材料在多种温度下的液体介质中进行热收缩性能及尺寸稳定性的测试。

试样尺寸:≤140mm×140mm

温度范围:室温~200

控温精度:±0.3

   源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:440mm(L)×370mm(B)×310mm (H

   重:24kg

 

   GB/T 13519ASTM D2732

标准配置:主机、夹持网5套、夹持网托架3

件:夹持网、夹持网托架

 

 

 

4.摩擦系数/剥离试验仪/摩擦系数仪 型号:H11931

 H11931 专业适用于塑料薄膜、薄片、箔片、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、纺织、造纸等相关材料的动、静摩擦系数和胶粘复合制品、离型纸、保护膜等产品的剥离强度测定。

摩擦系数、180°剥离二种试验模式

宽范围、高精度温度控制装置轻松实现试样在不同温度下的测试

七档试验速度、三档试验量程可以满足用户不同的测试条件

 该仪器满足GBISOASTM多种测试标准,测试方法可按用户需求任意选择

仪器试验台面和测试滑块均经过消磁处理和剩磁检测,有效地降低了系统测试误差

系统由计算机和微处理器共同控制,方便用户快速进行试验操作

专业软件提供测试结果曲线叠加统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户

标准的RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输

支持实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告

基础应用 薄膜 适用于塑料薄膜、薄片的静摩擦系数和动摩擦系数测试

纸张 适用于纸张、纸板的动、静摩擦系数测试

纺织品、无纺布、

橡胶 适用于橡胶的静摩擦系数和动摩擦系数测试

铝箔、铝箔复合膜、

金属制品 适用于铝箔、铝箔复合膜、金属制品的静摩擦系数和动摩擦系数测试

印刷品 适用于印刷品的静摩擦系数和动摩擦系数测试

扩展应用 高温测试 适用于高于室温条件下,某种材料的静摩擦系数和动摩擦系数测试

木材、地板材料 适用于木材、地板材料的静摩擦系数和动摩擦系数测试

胶片测试 适用于胶片的静摩擦系数和动摩擦系数测试

手机屏与皮革 适用于手机屏幕与皮革等材料的摩擦系数测试

胶粘制品剥离强度 适用于胶粘复合制品的剥离强度测试

保护膜 适用于手机保护膜、计算机保护膜等的剥离强度测试

磁卡的剥离强度 适用于磁卡贴膜与磁卡的剥离强度测试

指标 参数

负荷量程 0 5 N 0 10 N 0 30 N

精度 0.5

滑块质量 200g ( 100g 500g1000g1814g 2000g 等另购)

试验速度 50  100  150  200  250  300  500 mm/min

试验温度 室温 99.9

电源 AC  220V  50Hz

外形尺寸 850 mm (L) × 350 mm (W) × 290 mm (H)

净重 30 kg

 

 

 

 

5.相位法光速测量仪 光速测量仪 型号:H11913

对激光光束直接进行100MHz的高频调制,移动反光镜通过测量近程光与远程光的相位差求得调制光的波长,依据C=f•λ计算出光的传播速度,即“相位法"。仪器全长0.8m,全部采用半导体器件,性能稳定可靠。

测量方法:相位法

    仪器全长:0.8m

可变光程:0 1m

移相范围: -

分辨率:  0.2mm

    调制频率:100MHz

测相频率:455KHz

频率稳定度:

测量精度:小于等于3%

    波形幅度起伏小于等于5%

实验内容扩展性:  

1)  含光电接收电平指示插口和模拟通信接口,可开设模拟激光通信实验(需增购模拟通信收/发器)

测量透明介质的折射率 / 介质中光速的测量(需增购透明介质棒/管)

 

 

以上参数资料与图片相对应


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