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流平测定仪主要用于实验室测定液态涂料的相对流平性(涂料在干燥过程中消除表面弊病的能力)。适用于ASTM D2801-1994、JB/T3998-1999标准
产品分类
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应用领域 | 能源,电子,交通,汽车,电气 | 外形尺寸 | 框式120×20×20mm(长×宽×高) |
流平测定仪/流平性测定仪 型号:H06181
流平测定仪主要用于实验室测定液态涂料的相对流平性(涂料在干燥过程中消除表面弊病的能力)。
适用于ASTM D2801-1994、JB/T3998-1999标准
H06181 适用范围
设计制造的H06181 型流平性测定仪,一般与流挂性实验器配合使用,试验涂料在施工和干燥期间的流平(分散)和流挂性,为达到所要求的表面效果作比较试验。由于是专项试验而节约时间,能快速试验产品合格与否,从而快速调整配方。
H06181 参数
H06181 1:涂层100-1000um
外形尺寸:框式120×20×20mm(长×宽×高)
凹槽深度: 0.1/ 0.2/ 0.3/ 0.5 /1.0 mm
H06181 2:涂层250-4000um
外形尺寸:框式120×22×20mm(长×宽×高)
凹槽深度: 0.25 / 0.5 / 1.0 / 2.0 / 4.0 mm
H06181 简单介绍
主要用于实验室测定液态涂料的相对流平性(涂料在干燥过程中消除表面弊病的能力)。
适用于ASTM D2801-1994、JB/T3998-1999标准
H06181 适用范围
设计制造的H06181 型流平性测定仪,一般与流挂性实验器配合使用,试验涂料在施工和干燥期间的流平(分散)和流挂性,为达到所要求的表面效果作比较试验。由于是专项试验而节约时间,能快速试验产品合格与否,从而快速调整配方。
H06181 参数
H06181 1:涂层100-1000um
外形尺寸:框式120×20×20mm(长×宽×高)
凹槽深度: 0.1/ 0.2/ 0.3/ 0.5 /1.0 mm
H06181 2:涂层250-4000um
外形尺寸:框式120×22×20mm(长×宽×高)
凹槽深度: 0.25 / 0.5 / 1.0 / 2.0 / 4.0 mm
2.频率计/数字频率计 型号:H06178
本仪器可测量10Hz-2.4G之振荡频率,具有七位高亮度LED显示,该机性能稳定、测量精度高、体积小、重量轻、价格低廉,是一个既能测频率又能测周期、计数和电容多功能测试仪器。
技术指标
一、 频率计:
1、 测量范围: 10Hz-2.4GHz
2、 量程: (1) 档 10Hz-10MC
(2) 档 10Hz-50 MC
(3) 档 50MC-2400 MC
3、 闸门时间:0.02S、0.2S、2S选
4、 灵敏度:≤20mV
5、 阻抗:1MΩ、50Ω
6、 精度:基准时间误差 x 频率 ±1计数值
7、 数显:7位
二、周期:
1、 测量范围:1-9999999S
2、闸门时间:0.01S、0.1S、1S 选
三、计数:1-9999999
四、电容:测量范围 10P-5000UF误差±5%
五、电源电压:220V ±20% 50Hz
六、计数测量:按下“计数键", “G"灯亮,再按“清零键",清零复位,脉冲由低频输入口(10Hz-50Mc)输入,然后开始计数。
七、电容测量:按下电容键,将电容用随机所附的测试线接入CX插座(电解电容注意极性,红插座接+极)根据所测电容选择适当量程10UF或10KVF,该开关处于复位状态时,测10p-10UF,按下时测0.01UF-5000UF,测10P-50P电容时要减去分布电容8P,电容容量较大时,所需测量的时间较长。
八、晶体测量:按下10UF电容键和闸门键,频率选用10M或50M档,接口在晶振插口测得晶振值,测量范围2M-24M。
九、附件:测试电缆线二根(低频黑色、高频灰色各一根);晶振、电容测试线一对;电源线一根;说明书一份。
注意!高电压、高容量的电容必须先放电后测量,否则会损坏本仪器。在测量过程中OF发光管工作时,说明被测量数值已溢出,请选高一档量程.
3.. 自动漆膜干燥时间测定仪/ 型号:H06177
说明:为了全面详细了解涂层干燥和固化过程,需要有一种可自动测定涂膜干燥全过程时间的仪器,这样可以方便试验人员准确而高效得到一个科学数据,H06177 -24自动漆膜干燥时间测定仪设计原理为选用单片微机控制高精度步进电机,带动球面触点的划杆,在一定的载荷下通过恒定速度,划针匀速在待测漆膜表面做圆周运动,通过划针在涂膜表面轨迹用干燥时间图表覆盖后来判定涂料成膜全过程。
主要技术指标:
■ 电源:220V±10%,50HZ
■ 划杆旋转一周速度:24h/r
■ 划针半径:0.25/0.5/1.0/1.5mm
4.数字频率计/数字频率仪 型号:H06176
第一章 概 述
一、概述:
H06176 型数字频率计具有:频率测量、脉冲计数及晶体、彩电中周校准等功能,并有三档时间闸门、五档功能供选择和八位LED数码显示,频率从10Hz—2400MHz的智能频率计。全部功能是用一个单片微处理器(CPU)来完成的,从而整机性能稳定,体积小,使用携带方便,是一种高性能、低价位的理想智能数字化仪表。
二、技术条件及说明:
1、测量:
(1)输入端口
a、30 MHz — 2400 MHz 的高频通道端口
b、10 Hz — 30 MHz的低频通道端口
c、晶振插孔为晶体测量端口
(2)频率测量
a、量程:
C 0ㄈh 为“0"档 测量频率为30 MHz — 2400 MHz
C 1ㄈh 为“1"档 测量频率为30 MHz — 800 MHz
C 2ㄈh 为“2"档 测量频率为100 KHz — 30 MHz
C 3ㄈh 为“3"档 测量频率为10 Hz — 30 MHz
b、分辩率:
1 Hz, 10 Hz, 100 Hz
c、精度:
±1计数值±基准时间误差x 频率
d、闸门时间:
0.1S, 1S, 10S
e、输入灵敏度:
20 MV
f、输入阻抗:
50 Ω/ 1 MΩ
j、输入电压:
30 V
2、计数测量:
在第“4"档位( C4ㄈh)由10 Hz — 30 MHz插口输入,分辩率为±1输入计数值。
3、晶体测量:
在“2"和“3"档位上从面板晶振输入插孔插入欲测之晶体,测试晶振范
围为100KHz — 40 MHz(24MC以上为测量值x3)。
4、中周校准:
①频率范围: A单片机、四片机的视频检波中周37.8MHz
AFT:37MHz
B 两片机的视频检波中周 38.7MHz
AFT:37.8MHz
②频率误差:±0.2MHz
5、电源电压:AC 220 V ± 10% ; 频率50 Hz
6、功 耗: 3 W
7、温 度: 使用范围 -5℃ — +50℃
存放运输 -40℃ — +60℃
8、湿 度: 10-90 % RH 存放运输 5-90 % RH
9、预热时间:10分钟
10、尺 寸:200 x 60 x 160 (mm)
11、重 量:约0.5 Kg
第二章 操作方法
1、频率的测量:当测量的频率为10 Hz — 30 MHz时,“晶体、中周"键
弹出,将随机所配的测试线插入下面的插座中,按动“档位"按钮到“2"档或“3"档,按动“闸门"按钮,当测试频率为800 MHz以上时,可选用本机上面的插座,按动“档位"键到“0"档,当频率小于800 MHz时,请选用“1"档,同时选用适当的闸门时间,频率越低,选用的闸门时间越长,反之越短。
由于低频率时是高阻抗,而测试的频率为低阻抗(如测试50Hz交流电源),此时会产生阻抗严重失配,可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。
2、晶体的测量:将“晶体、中周"键按下,“档位"按钮到“2"档或“3"档,测量100KHz—3MC,面板插孔为1、2孔,3MC—24MC,面板插孔为3、4孔。
3、中周校准:将“晶体、中周"键按下,“档位"按钮到“0"档,将中周插入面板插座的下方。两片机中频中周频率范围大约在38.9MC,单片机和四片机大约在37.8MC,AFT中周单片机大约37MHz,两片机大约37.8,根据实践经验确定)。拆下电视机的图象中频中周或AFT中周,将与中周线圈并联的瓷管电容拆开,选择一只电容(47P-75P)并接在中周的脚上,再将中周相应的脚,插入面板插座下面的插孔中,此时即显示频率值,无感起子缓慢调节磁芯,
到相应的数值。AFT检波线圈应显示在37.8MC上。注意有的电视机的中周壳
中不带谐振电容,而是按装在线路板上,这种情况应将中周和电容一起拔下,并联好后再调校(校后装入电视机上,有的需要左右微动磁芯少许)。
4、计数:在10 Hz — 30 MC插口,接入电脉冲,“档位"选至“4",即
可计数。
5.数字频率计/频率计/数字频率仪 型号:H06174
一、概述:
H06174 型数字频率计具有:频率测量、脉冲计数及晶体测量等功能,并有三档时间闸门、五档功能供选择和八位LED数码显示,频率从10Hz—2400MHz的智能频率计。
是用一个单片微处理器(CPU)来完成的,从而整机性能稳定,体积小,使用携带方便,是一种高性能、低价位的理想智能数字化仪表。
二、技术条件及说明:
1、测量
(1)输入端口
a、30 MHz — 2400 MHz 的高频通道端口
b、10 Hz — 30 MHz的低频通道端口
c、晶振插孔为晶体测量端口
(2)频率测量
a、量程:
C 0ㄈh 为“0"档 测量频率为30 MHz — 2400MHz
C 1ㄈh 为“1"档 测量频率为30 MHz — 800 MHz
C 2ㄈh 为“2"档 测量频率为100 KHz — 30 MHz
C 3ㄈh 为“3"档 测量频率为10 Hz — 30 MHz
b、分辩率:
1Hz, 10Hz, 100Hz
c、精度:
±1计数值±基准时间误差x 频率
d、闸门时间:
0.1S, 1S, 10S
e、输入灵敏度:
15 MV
f、输入阻抗:
50 Ω/ 1 MΩ
j、输入电压:
30 V
(3) 计数测量
在第“4"档位( C4ㄈh)由10 Hz — 30 MHz插口输入,分辩率为±1输入计数值。
(4)晶体测量
在“2"和“3"档位上从面板晶振输入插孔插入欲测之晶体,测试晶振范
围为3 MHz — 24 MHz。
(5)电源电压:AC 220 V ± 10% ; 频率50 Hz
(6)功耗: 3 W
(7)温度: 使用范围 -5℃ — +50℃
存放运输 -40℃ — +60℃
(8)湿度: 10-90 % RH 存放运输 5-90 % RH
(9)预热时间:10分钟
(10)尺寸:200 x 60 x 160 (mm)
(11)重量:约0.5 Kg
第二章 操作方法
1、频率的测量:当测量的频率为10 Hz — 30 MHz时,“晶体"键弹出,
将随机所配的测试线插入下面的插座中,按动“档位"按钮到“2"档或“3"档,按动“闸门"按钮,当测试频率为800 MHz以上时,可选用本机上面的插座,按动“档位"键到“0"档,当频率小于800 MHz时,请选用“1"档,同时选用适当的闸门时间,频率越低,选用的闸门时间越长,反之越短。
由于低频率时是高阻抗,而测试的频率为低阻抗(如测试50Hz交流电源),此时会产生阻抗严重失配,可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。
2、晶体的测量:将“晶体"键按下,“档位"按钮到“2"档或“3"档。
3、计数:在10 Hz — 30 MC插口,接入电脉冲,“档位"选至“4",
即可计数。
以上参数资料与图片相对应
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